Microscopía de fuerza atómica
Microscopía de fuerza atómica Características: 1. La sonda de escaneo integrada y la platina de muestra mejoran la capacidad antiinterferencia del sistema de suspensión de resorte. 2. El dispositivo de posicionamiento de sonda y láser de precisión hace que el cambio de sonda y el ajuste del punto sean simples y convenientes. 3. El acercamiento automático de la muestra a la sonda proporciona una forma eficiente de evitar el choque del voladizo. 4. La aproximación vertical de la sonda de muestra permite lograr un posicionamiento preciso del área de interés. 5. El área de escaneo de muestra de interés se puede seleccionar libremente con una mesa XY de amplio rango y alta precisión. 6. El sistema CCD de vista superior garantiza la observación y el posicionamiento en tiempo real de la sonda en Más info: https://es.biobase.com/product/atomic-force-microscopy
Modelos de Microscopía de fuerza atómica
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| Modelo | No. Catálogo | Descripción | Especificaciones |
|---|---|---|---|
| BK-AFM1000 | — | — | Tamaño de la muestra: Diámetro exterior ≤ 90 mm, altura ≤ 20 mm | Tamaño del paquete: 550*550*1150 mm | Peso bruto: 65 kilos |
BK-AFM1000
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